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  • 联讯CT8201激光器芯片测试系统
    联讯CT8201激光器芯片测试系统

    联讯CT8201激光器芯片测试系统联讯仪器 CT8201 激光器芯片测试系统是针对激光二极管LIV、光谱及近场/远场参数测试需求开发的。

    更新日期:2024-01-28型号:访问量:1653
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  • 联讯TO6201 TO高温测试系统
    联讯TO6201 TO高温测试系统

    联讯TO6201 TO高温测试系统TO6201-LIV是联讯仪器提供的测试TO LIV,光谱测试机台,支持标准8x8老化夹具,主要功能和参数指标包括: • 支持TO的LIV扫描相关参数计算. • 支持中心波长和SMSR测试,是否跳模判断(多电流点光谱测试法)

    更新日期:2024-01-28型号:访问量:1468
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  • 联讯TO6200低温测试系统
    联讯TO6200低温测试系统

    联讯TO6200低温测试系统联讯仪器提供的测试设备需要支持如下TO 产品的LIV 与光谱测试,详细功能包括: - 支持TO 的LIV 扫描相关参数计算和算法选择 - 支持中心波长和SMSR 测试,是否跳模判断(多电流点光谱测试法). - 支持LIV 和光谱并行测试

    更新日期:2024-01-28型号:访问量:1349
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  • 联讯BI4201-TO老化系统
    联讯BI4201-TO老化系统

    联讯BI4201-TO老化系统是联讯仪器提供的测试TO 标准老化系统,主要功能和特点包括:。 - 双温区,每个温区可以独立老化不同产品 - 大容量,每个温区支持1536 颗TO 的老化,共支持3072 颗TO 的老化 - 软件切换引脚定义,针对目前行业内不同的引脚封装通过软件切换实现 - 兼容小电流VCSEL TO 的老化和大电流FP/DFB TO 的老化

    更新日期:2024-01-28型号:访问量:1538
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  • ENJ2005-C半导体功率器件图示系统
    ENJ2005-C半导体功率器件图示系统

    ENJ2005-C半导体功率器件图示系统是一款很具有代表性的新型半导体功率器件图示系统,系统IV曲线自动生成,也可根据实际需求设置功能测试,直接读取数显结果。系统生成的曲线都使用ATE系统逐点建立,保证了数据的准确可靠。

    更新日期:2025-09-25型号:访问量:2321
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  • EN-1230A分立器件动态参数测试系统
    EN-1230A分立器件动态参数测试系统

    EN-1230A分立器件动态参数测试系统是针对于半导体器件进行非破坏性瞬态测试。用于二极管、双极性三极管、MOEFET、IGBT的动态参数测试。系 统的测试原理符合相应的国家标准、军标、系统为独立式单元,封闭式结构,具有升级扩展潜能。

    更新日期:2025-09-25型号:访问量:2732
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  • 容测EA-I16汽车电源故障模拟器
    容测EA-I16汽车电源故障模拟器

    容测EA-I16汽车电源故障模拟器EA-I16 线束微中断模拟器(汽车电源故障模拟器)电源线信号线二合一设计,应用于汽车线束微中断测试,输出波形,最小支持1us中断试验。

    更新日期:2024-01-28型号:访问量:1552
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  • 容测ES-608射频传导干扰模拟测试系统
    容测ES-608射频传导干扰模拟测试系统

    容测ES-608射频传导干扰模拟测试系统有非常高效的注入效率,耦合去耦合网络、电磁钳、电流钳法均支持10V测试要求,广泛用于医疗、电力、工业控制、新能源充电桩、通讯等行业。符合IEC61000-4-6、GB/T17626.6、CISPR 35标准要求。

    更新日期:2024-01-28型号:访问量:1871
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